SPM-Nanoa - Options

컨틸레버의 탐침과 시료의 거리를 변경하면서 탐침에 작용하는 힘을 측정(Force Curve)하여 표면의 기계적 특성을 평가할 수 있습니다. 측정 시스템을 고속화하여 고속 물성 맵핑을 실현했습니다.

Force Curve 측정

Force Curve 측정에서 컨틸레버가 힘을 받는 모양

Force Curve

Force Curve 측정으로 얻을 수 있는 컨틸레버가 받는 힘의 그래프

시료 표면의 각 지점에서 Force Curve를 취득하여 평면 XY방향의 물성 맵핑을 할 수 있습니다. 나노 인덴터로도 측정이 어려운 박막이나 수kPa ~ 1GPa 정도 레벨의 부드러운 재료의 기계적 특성 평가에서 위력을 발휘합니다.

Styrene-Butadiene 고무의 탄성율 맵핑

표면 형상

탄성율

탄성율 히스토그램

styrene-butadiene 고무(Soxhlet 추출 후)의 탄성율 맵핑을 했습니다.
탄성율의 시흐토그램으로 재료의 균일성을 평가할 수 있습니다.
샘플 제공: Professor Nakajima, Department of Chemical Science and Engineering, Tokyo Institute of Technology

탄성율 • 흡착력의 분포를 나노 영역에서 가시화

탐침 - 시료 사이에 작용하는 미세한 힘을 측정해서 얻을 수 있는 Force Curve에 탄성율 산출이론 모델을 적용하여, 탄성율을 정량평가할 수 있습니다. 힘의 높이 방향 분포도 가시화하여, 3차원으로 나노역학 해석을 할 수 있습니다.

폴리머 필름 물성 맵핑

표면 형상

탄성율

흡착력

폴리머 필름의 표면 물성 맵핑을 했습니다. 탄성율과 흡착력이 수십nm 크기로 분포되어 있는 모양을 관찰할 수 있습니다.
샘플 제공: MORESCO Corporation

시료간 기계 특성 비교

콘택트렌즈 형상 측정

메이커가 다른 두 종류의 콘택트렌즈를 인공눈물 안에서 물성 맵핑을 실시했습니다. 시료간 표면물성의 차이를 확인할 수 있습니다. 위쪽 콘텍트렌즈가 변형되기 쉽고 흡착력이 균일하다는 것을 알 수 있습니다.