SPM-Nanoa - Configuration
Scanning Probe Microscope/Atomic Force Microscope
다채로운 확장 기능
모든 요구에 대응할 수 있는 확장성
■는 표준사양, □는 옵션 사양입니다.
그 외 주문 제작도 가능하므로 문의 바랍니다.
■Contact Mode
■Dynamic Mode
■Phase Mode
■Lateral Force Mode (LFM)
■Force Modulation Mode
□Current / I-V Mode
□Surface Potential Mode (KFM)
□Lateral Force Mode (MFM)
■Force Curve
□Nano 3D Mapping Fast
□Piezoelectric Force
Mode (PFM)
□STM
□Vector Scanning
□Observation in Liquid
옵션
■는 표준사양, □는 옵션 사양입니다.
그 외 주문 제작도 가능하므로 문의 바랍니다.
■HT Scanner
(10 μm x 10 μm x 1 μm)
□Medium-Range Scanner
(30 μm x 30 μm x 5 μm)
□Large-Range Scanner
(125 μm x 125 μm x 7 μm)
□Deep-Type Scanner
(55 μm x 55 μm x 13 μm)
□Small-Range Scanner
(2.5μm x 2.5μm x 0.5μm)
□Fiber Light
□Cross-Sectional View
Sample Holder
□Particle Analysis Software
□Desk-Type Air-Spring
Vibration Damper
□Active Vibration Damper
□Active Vibration Damper with a Stand
□Cantilever Mounting Jig
□Static Eliminator
□Computer Table
형상
Contact Mode
컨틸레버가 휘어진 정도가 일정하게 유지되도록 주사하여, 표면 형상을 관찰 합니다.
Dynamic Mode
컨틸레버 진동의 진폭이 일정하게 유지 되도록 주사하여, 표면 형상을 관찰합니다.
물성
Phase Mode
컨틸레버 진동의 위상 지연을 검출해서 표면의 점탄성 분포를 관찰합니다.
Lateral Force Mode (LFM)
컨틸레버의 비틀림을 검출해서, 수평력(마찰력)을 관찰합니다.
Force Modulation Mode
컨틸레버의 응답 진폭 • 위상 성분을 분리해서, 점성 • 탄성의 분포를 관찰합니다.
Nano 3D Mapping™ Fast Optional
Force cuuve에서 표면의 탄성율과 흡착력 등을 산출해서 그 분포를 관찰합니다.
전자기 (Optional)
Current Mode
컨틸레버에 흐르는 전류를 검출해서 표면의 전기 특성을 관찰합니다.
Surface Potential Mode (KPFM)
컨틸레버에 작용하는 정전기력을 검출해서 표면의 전위 분포를 관찰합니다.
Magnetic Force Mode (MFM)
컨틸레버에 작용하는 자기력을 검출해서 표면의 자구(Magnetic domain)분포를 관찰합니다.
Piezoelectric Force Mode (PFM)
전기 신호에 대한 전압 응답을 검출해서 표면의 분극 분포를 관찰합니다.
STM
터널 전류가 일정하게 유지되도록 금속 탐침을 주사해서 표면 형상을 관찰합니다.
가공 (Optional)
Vector Scanning
주사 방향과 속도, 하중, 인가 압력 등을 임의로 설정해서 표면을 주사할 수 있습니다.
환경 제어 (Optional)
Observation in Liquid
용액 중에서 Contact, dynamic, phase 모드를 사용할 수 있습니다..