Model designed specifically for RoHS/ELV screening

EDX-LE는 RoHS/ELV 규제원소 분석을 위해서 특별히 설계된 형광X선분석기 입니다. 액체질소를 사용하지 않는 검출기(Si-PIN 반도체 검출기)를 사용해서 운용 비용을 낮추고 유지보수를 용이하게 했습니다. 자동화된 분석 기능은 높은 수준의 분석 정확도를 유지하면서 운용성을 향상시킵니다. 측정 시작에서 결과가 나오기까지 약 1분정도로 분석시간도 짧아서 RoHS 규제 대응에 매우 유용합니다.

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