전기·전자
- RoHS규제, 할로겐프리 등의 스크리닝분석
- 반도체, 디스크, 액정, 태양전지 등 각 종 박막 분석
Energy dispersive X-ray Fluorescence spectrometer
EDX-7200은 샘플을 파괴하지 않고 고체•분말•액체 등 원소분석을 할 수 있는 형광X선 분석의 특징을 살려, 유해원소 수입검사 및 의약품•식품의 이물분석, 고고학시료나 보석의 성분분석 등, 모든 분야에서 다양한 어플리케이션으로 사용되고 있습니다.
전기·전자
- RoHS규제, 할로겐프리 등의 스크리닝분석
- 반도체, 디스크, 액정, 태양전지 등 각 종 박막 분석
화학공업
- 무기·유기원료 및 제품분석
- 촉매, 안료, 도료, 고무, 플라스틱 분석
자동차·기계
- ELV 대응 스크리닝 분석
- 각 종 기계부품의 조성분석 및 도금두께 분석, 화성 피막 부착량 측정
환경
- 토양, 폐수, 소각 재, 필터, PM2.5 등의 조성분석
철강·비철
- 원재료, 합금, 땜납, 귀금속의 주성분, 불순물 분석
- 슬래그 조성분석
의약
- 합성시의 잔류촉매 분석
- 원약중의 불순물 원소, 이물분석
요업
- 세라믹, 시멘트, 유리, 벽돌, 점토 분석
농업·식품
- 토양, 비료, 식물 분석
- 식품 원재료 분석, 첨가 원소 관리, 혼입 이물 분석
석유·석유화학
- 오일 중 황 분석
- 윤활유의 각 종 첨가원소 및 혼입원소 분석
기타
- 고고학시료 및 보석 성분분석,
- 장난감·생활용품 중의 유해원소 분석 등
보어원자모형으로 표현한 전자 궤도와 형광X선의 발생
형광X선의 발생
시료에 X-ray tube에서 발생된 X선을 조사하면, 시료에 함유된 원자에서 고유의 형광X선이 발생되고, 시료 밖으로 방출됩니다. 이 X선은 형광X선이라고 하며, 각 원소 고유의 파장(에너지)을 가지고 있습니다. 따라서, 이 X선의 파장을 확인함으로서 정성분석을 할 수 있습니다. 또한, 형광X선의 강도는 농도와 비례하기 때문에, 원소 특유의 파장별로 형광X선의 양을 측정하면, 정량분석을 할 수 있습니다.