SALD-7500nano - Features

대상 입자 크기 범위는 단일 측정 원리, 단일 광학 시스템 및 단일 광원을 사용하여 원활하게 커버됩니다. 또한 SALD-7500nano는 데이터에서 불연속성을 생성하는 여러 광학 시스템을 통합하지 않기 때문에 단일 표준을 사용하여 전체 측정 범위에서 정확한 입자 크기 분포 측정이 가능합니다. 정교한 산란광 강도 추적 기술을 기반으로 한 SLIT * 광학 시스템의 적용은 단일 검출기면에서 최대 60 °의 넓은 각도로 전방 산란광을 지속적으로 캡처하는 기존의 통념을 깨뜨립니다. 이것은 미세 입자 영역에서 높은 해상도를 달성합니다.
* SLIT (Scattered Light Intensity Trace)

고분해능 / 고감도 윙 센서 ll 순방향 회절 / 산란광은 최고 수준의 반도체 제조 기술을 사용하여 개발 한 76 개 소자 센서 인 "윙 센서 ll"에 의해 감지됩니다. 이 센서는 높은 수준의 해상도로 크게 변동하는 작은 각도의 전방 산란광과 높은 수준의 감도로 낮은 광학 강도의 광각 산란광을 감지 할 수 있습니다. 또한 측면 산란광은 하나의 센서 소자에 의해 감지되고 후방 산란광은 4 개의 센서 소자에 의해 감지됩니다. 총 81 개의 센서 요소로 광도 분포 패턴을 정확하게 캡처하면 넓은 입자 직경 범위에 걸쳐 입자 크기 분포의 고해상도, 고정밀 측정이 가능합니다.

이 분석기는 강력한 자가 진단 기능을 통합합니다. 센서 및 감지 요소에서 보내는 출력 신호와 기기 작동 상태를 확인할 수있어 유지 보수가 용이합니다. Operation Log 기능을 사용하면 모든 측정 데이터에 기기 사용 상태 및 셀 오염 등의 세부 정보가 포함되어 과거에 획득 한 측정 데이터의 유효성을 조사 할 수 있습니다.

광량 분포 데이터 (원시 데이터)와 측정 결과 (입도 분포 데이터)를 동일한 화면에 표시 할 수 있으므로 두 데이터 세트를 보면서 측정 결과를 확인할 수 있습니다. 이를 통해 사용자는 검출 신호 수준 (입자 농도)이 적절한 지 여부를 확인하고 분포 폭, 응집체 및 오염 물질의 존재와 같은 여러 측면에서 측정 결과의 유효성을 확인할 수 있습니다.