MIV-X

MAIVIS Ultrasonic Optical Flaw Detector

눈으로 확인할 수 없는 균열 · 공극 · 박리 등 숨겨진 결함을 가시화

"누구나" "바로" "쉽게" 표면 검사를 가시화

초음파 진동자와 스트로보 스코프를 조합한 Shimadzu 독자 기술로, 이종재료의 접합이나 접착면 · 도장이나 용사 등 코팅면의 박리와 같은 표면 부근의 결함을 비파괴로 검사할 수 있습니다.

- 대상 물체에 초음파 진동자를 설치하고 검사면 위에 카메라만 설치하면 OK

- 초음파 전파 상황을 단시간에 표시, 영상으로 표시되기 때문에 결함을 식별하기 쉬움.

- 결함 마킹이나 간이 치수 측정 등, 기능이 풍부하고 조작도 간단.

- 더 작은 결함을 검지할 수 있는 광학 줌 세트(옵션)도 라인업.

모든 업계에서 활약

Features

측정 원리

초음파 광 탐상기술은 검사 대상을 여진시켜서 표면의 변위를 광학적으로 검지하고, 표면에 전파되는 초음파의 상황을 관측하는 기술입니다.
기존 초음파탐상과 차이

초음파 광 탐상장치 MIV-X는 대기중에서 초음파 탐상검사(UT)가 어려운 영역을 보완합니다.
편의기능

- 결함을 더 쉽게 식별할 수 있게 하는 노이즈 제거 기능
- 결함 위치나 크기를 식별하기 쉽게 하는 치수 표시 / 마킹 기능
- 더 작은 결함도 검지할 수 있는 광학 줌 세트 (옵션)

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